使用飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

超越光學(xué)顯微鏡分析，*自動(dòng)化的飛納臺(tái)式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)把可視化分析提高到了一個(gè)新臺(tái)階，這將在粉末設(shè)計(jì)、開發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出，并生成報(bào)告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。

散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納臺(tái)式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

顆粒系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)

顆粒分析

• 顆粒尺寸范圍：100 nm – 0.1 mm

• 顆粒探測速度：高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘

• 測量屬性：大小、形狀、數(shù)量

顆粒參數(shù)：面積、圓當(dāng)量直徑、表面積、外切圓直徑、比表面積、周長、縱橫比、圓度、伸長率、灰度等級(jí)、長軸、短

軸、凸殼體、重心 (x、y)、像素點(diǎn)數(shù)、凹凸度

圖像顯示

• 可給出線性、對(duì)數(shù)或雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)的數(shù)量、體積分布圖

• 任意zhi定參數(shù)的散點(diǎn)圖

• 單個(gè)顆粒的掃描電鏡（SEM）圖像

復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，負(fù)責(zé)荷蘭飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業(yè)的和測試服務(wù)，飛納電鏡擁有專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì)，提供優(yōu)化的解決方案；飛納電鏡在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納在中國已經(jīng)擁有超過 1000 名用戶。