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結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng),以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析,代表著微觀顆粒分析技術的一大進步??焖佟⒁子煤统逦上褓|(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個強大工具。
Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。