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像散對掃描電鏡成像質量的影響通過之前的文章，大家了解了“加速電壓”與“束流強度”對圖像的成像質量有非常大的影響。其實除了加速電壓、樣品的導電性、電鏡的束流強度，像散、圖像的亮度對比度等都會影響掃描電鏡圖像的成像質量。今天，這一篇文章將教大家...

設備更新|粉末原子層沉積（PALD）：科研平臺建設“新質生產力”隨著對科技創(chuàng)新的不斷重視和投入，新一輪的大規(guī)模設備以舊換政策為廣大高校和研究機構帶來了發(fā)展機遇。高質量的科研平臺建設是提升研究水平、增強競爭力的關鍵。ForgeNano的新型粉...

掃描電鏡拍攝技巧|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現(xiàn)象在使用掃描電鏡進行樣品觀察時，尤其是采用二次電子模式，隨著觀察時間的延長，在觀察的區(qū)域會出現(xiàn)一塊黑的矩形的區(qū)域。如下圖所示，對一塊空白的鋁制樣品臺進行觀察時，一段時間后降低放大倍數(shù)，發(fā)現(xiàn)...

設備更新｜掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設備2024年3月1日，《推動大規(guī)模設備更新和消費品以舊換新行動方案》經審議通過。會議指出，推動新一輪大規(guī)模設備更新和消費品以舊換新，是著眼于我國高質量發(fā)展大局作出的重大決策。同時指出，新一...

掃描電鏡制樣：保證掃描電鏡樣品清潔有多重要？掃描電鏡（SEM）主要用于微觀形貌分析，其測試結果的好壞，一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平決定，另一方面還與樣品制備過程有關。掃描電鏡（SEM）樣品需要保持清潔、無污染物，盡量把污染程...

在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。（詳見：原子層沉積（ALD）技術在鋰電材料中的應用（一）：電極粉末包覆的必要性（上））ALD方法對于電極材料的改善...

引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質量的TEM照片，進而也限制了對輕元素的量化分析。可以選擇離子精修儀對FIB...

納米印刷沉積：助力納米技術發(fā)展，引發(fā)納米能源領域革命性變革絕緣、傳導、反射、保溫、耐磨和防銹等材料及其特性在日常生活中發(fā)揮著重要作用，科學家們正在不斷努力改善材料的特性以制造出具備更優(yōu)性能的產品。更好的隔熱效果可以降低供暖成本；更好的傳導導...